<企业资料>九域已取得知识产权列表发表时间:2023-11-30 10:22 CN217561384U CN202220081240.9 2022.06.23 一种非接触式半导体锭和单晶硅片一体式剖析测量仪器 CN217689165U CN202220106083.2 2022.01.14 一种非接触式方阻及电阻率探头装置 CN217425524U CN202220051205.2 2022.01.10 半导体硅锭电阻率检测一侧探头 CN217688791U CN202220031870.5 2022.01.07 一种半导体锭和单晶硅片全自动分辨装置 CN217676626U CN202220031867.3 2022.01.07 一种吊装转动真空包装装置 CN307587033S CN202130763457.9 2021.11.20 半导体单晶硅片调节转动仪 CN307411343S CN202130763458.3 2021.11.20 精确测量探头(涡旋及电子光学融合式) CN307315562S CN202130763455.X 2021.11.20 方阻及电阻率探头 CN307315602S CN202130760827.3 2021.11.19 非接触式方阻及电阻率检测仪探头 CN307412495S CN202130760714.3 2021.11.19 吊装转动真空包装装置 CN307315561S CN202130760911.5 2021.11.19 方阻及电阻器检测仪 CN216525567U CN202122580909.7 2021.10.26 一种适用单晶硅片和硅锭的电导率测试仪 CN216526033U CN202122580917.1 2021.10.26 一种双工序电导率测试仪 CN216525568U CN202122580916.7 2021.10.26 一种半导体原材料全自动翻过来装置 无接触式单晶硅片计算剖析电阻率薄厚手机软件V1.0 2023SR0282114 2022.06.30 便携式方阻率测试工具V1.00.02 2022SR0068697 2021.10.20 非接触式测量电阻率的使用量检测系统V1.0 2023SR0282113 2022.04.10 上一篇碳化硅(SiC)介绍
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